Wärmekamera-Modul ungekühltes LWIR 1280x1024/12μm der VOx-hohen Auflösung

Herkunftsort Provinz Wuhans, Hubei, China
Markenname SensorMicro
Zertifizierung ISO9001:2015; RoHS; Reach
Modellnummer PLUG1212R
Min Bestellmenge 1 Stück
Preis negotiable
Zahlungsbedingungen L/C, T/T

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Produktdetails
Auflösung 1280x1024/12μm NETD <50mK
Spektralbereich 8~14μm Größe 20x20x10.4mm
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VOx-Wärmekamera-Modul 12um

,

LWIR-Wärmekamera-Modul 1280x1024

,

Kamera-Modul des VOx-LWIR

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Produkt-Beschreibung
PLUG1212 Infrarot-Kameramodul


VOx ungekühlter LWIR 1280x1024 / 12μm Wärmebildkameramodul für industrielle Temperaturmessung


Produktbeschreibung


PLUG1212R ist eines der ungekühlten Infrarot-Kameramodule der PLUG-R-Serie, das von SensorMicro entwickelt wurde. Es verwendet den auf dem Markt bevorzugten Brennebenen-Array-VOx-Mikrobolometer-ungekühlten Infrarotdetektor, eine professionelle Signalverarbeitungsschaltung und eine Bildverarbeitungsplattform, die die Infrarotstrahlung des Ziels vollständig in Temperaturdaten umwandelt. Seine Temperaturmessung ist verfügbar und der Temperaturbereich kann anpassbar sein und reicht von -20℃~150 ℃ für industrielle Temperaturmessungen.


Mit einer großen Array-Auflösung von 1280x1024 kann das ungekühlte Wärmemodul PLUG1212R mehr Bilddetails darstellen und ein größeres Sichtfeld unterstützen. Die reduzierte Pixelgröße von 12µm bietet eine bessere räumliche Auflösung und passt zu kürzeren optischen Linsen, um die gleiche Reichweitenmission zu erreichen.


Hauptmerkmale


- Pixelabstand: 12μm

- Auflösung: 1280x1024

- Spektralbereich: 8μm -14μm

- Hohe Empfindlichkeit: NETD<30mK

- Temperaturbereich: -20℃~150℃, 100℃~550℃

- Temperaturgenauigkeit: ±2℃ oder ±2%

- Hohe Zuverlässigkeit & Starke Umweltanpassungsfähigkeit.


Produktspezifikationen


Modell PLUG1212R
IR-Detektorleistung
Auflösung 1280x1024
Pixelabstand 12μm
Spektralbereich 8~14μm
NETD <30mk
Bildverarbeitung
Bildrate 25Hz
Startzeit <25s
Analoges Video /
Digitales Video HDMI/RAW/YUV/BT1120
Erweiterungskomponente USB/Camerlink
Dimmmodus Linear/Histogramm/Gemischt
Digitalzoom 1~8X kontinuierlicher Zoom, Schrittweite 1/8
Bildanzeige Schwarz-Heiß/Weiß-Heiß/Pseudofarbe
Bildrichtung Horizontal/Vertikal/Diagonal spiegeln
Bildalgorithmus NUC/AGC/IDE
Elektrische Spezifikation
Standard-Schnittstelle 50pin_HRS-Schnittstelle
Kommunikationsmodus RS232-TTL, 115200bps
Versorgungsspannung 5±0,5V
Temperaturmessung
Betriebstemperaturbereich -10°C~50°C
Temperaturbereich -20°C~150°C, 100°C~550°C
Temperaturgenauigkeit ±2°C oder ±2% (Nehmen Sie den Maximalwert)
SDK ARM/Windows/Linux SDK, Vollbild-Thermografie
Physikalische Eigenschaften
Abmessungen (mm) 56x56x40.2
Gewicht ≤200g
Umweltanpassung
Betriebstemperatur -40°C ~ +70°C
Lagertemperatur -45°C ~ +85°C
Luftfeuchtigkeit 5%~95%, nicht kondensierend
Vibration Zufallsvibration 5,35 grms, 3 Achsen
Schock Halb-Sinus-Welle, 40 g/11 ms, 3 Achsen 6 Richtungen
Optik
Optionale Linse Festfokus athermal: 19 mm/25 mm


Industrielle Anwendungen


Das Infrarot-Bildmodul PLU1212R wird häufig in der Stromversorgung, der industriellen Bildverarbeitung, der Gebäudeinspektion, der metallurgischen Petrochemie usw. eingesetzt.


Wärmekamera-Modul ungekühltes LWIR 1280x1024/12μm der VOx-hohen Auflösung 0

Unsere Kern-Infrarotdetektoren


Wärmekamera-Modul ungekühltes LWIR 1280x1024/12μm der VOx-hohen Auflösung 1


Häufig gestellte Fragen


1. Über Infrarotdetektoren mit Keramikgehäuse

Das Keramikgehäuseverfahren ähnelt dem Metallgehäuse und ist eine ausgereifte Verpackungstechnologie für Infrarotdetektoren. Im Vergleich zum Metallgehäuse werden das Volumen und das Gewicht des verpackten Detektors stark reduziert. Für das Keramikgehäuse hat die Ausleseschaltung eine selbstregulierende Betriebstemperaturfunktion und benötigt keine TEC-Stabilisierung.


2. Wafer-Level-Verpackung

Wafer-Level-Verpackung, auch bekannt als Wafer-Level-Größenverpackung, ist ein wichtiger Bestandteil der fortschrittlichen Verpackungstechnologie in der Halbleiterindustrie geworden. Die Wafer-Level-Verpackung (WLP) ist der Prozess, bei dem die Hochvakuumverpackung direkt auf dem gesamten MEMS-Wafer durchgeführt wird, gefolgt von Ritz- und Schneideprozessen, um einen einzelnen Infrarotdetektor herzustellen. Sie führt die meisten oder alle Verpackungs- und Testverfahren direkt auf dem IR-Detektor-Wafer durch, bevor er vereinzelt wird.

Es ist ein verbessertes Chip-Size-Package, das die Anforderungen an geringe Größe, geringes Gewicht, Tragbarkeit, Handlichkeit, niedrigen Preis und hohe Produktionseffizienz erfüllt.